최선단 반도체 노드의 PDK 개발 관련해 정확도 향상 가능
키사이트테크놀로지스는 삼성 파운드리에서 키사이트의 'E4727B 고급 저주파수 노이즈 분석기(A-LFNA)'를 채택했다고 29일 밝혔다.
E4727B A-LFNA는 플리커 노이즈(1/f 노이즈), 랜덤 텔레그래프 노이즈(RTN) 등 반도체 디바이스의 저주파수 노이즈를 측정하는 턴키 솔루션이다. PathWave A-LFNA 측정 및 프로그래밍 소프트웨어는 PathWave WaferPro(WaferPro Express) 측정 플랫폼을 기반으로 만들어졌다. 엔지니어는 유연하고 확장 가능한 측정 시스템에서 전체 웨이퍼 레벨 디바이스 특성화 워크플로를 관리하고 자동화할 수 있다.
엔지니어들은 시스템의 측정 데이터를 키사이트의 PathWave 디바이스 모델링(IC-CAP) 및 PathWave 모델 빌더(MBP) 소프트웨어로 가져와, PDK프로세스 설계 키트) 개발을 위한 디바이스 모델을 추출할 수 있다. 이를 통해 아주 정확한 RF 및 아날로그 저노이즈 회로 설계 및 시뮬레이션이 가능하다.
삼성 파운드리 기술부문 이형진 마스터는 "삼성전자는 신중한 기술 평가 끝에 키사이트의 E4727B A-LFNA로 디바이스 측정 품질, 효율성, 확장성을 개선하기로 결정했다"며 "정확하고 빠른 A-LFNA의 측정 기능을 통해 PDK를 더 빠르게 출시해 고객의 설계 주기를 가속화할 수 있다"고 설명했다.
디일렉=장경윤 기자 [email protected]
《반도체·디스플레이·배터리·전자부품 분야 전문미디어 디일렉》
저작권자 © 전자부품 전문 미디어 디일렉 무단전재 및 재배포 금지
