지멘스(Simense)의 전자자동설계(EDA) 사업부는 12일(현지시각) 차세대 집적회로(IC)의 설계단계에서 칩의 공정상 결함이 있는지 체크하는 테스트 용이화 설계(DFT) 솔루션인 '테센트 인시스템 테스트(Tessent In-System Test)' 소프트웨어를 출시했다. IC의 노후화에 따라 유발되는 데이터 손상(SDC/SDE) 같은 문제를 해결하기 위해 설계된 테센트 인시스템 테스트는 업계 최초의 IC 내부에 탑재된 테스트 컨트롤러다. 이는 신호전송통로(버스)에서 여러 개의 IC 코어를 동시에 테스트하도록 지원하는 '테센트 스트리밍 스캔 네트워크(SSN)'와 함께 작동한다. 테센트 인시스템 테스트를 통해 고객은 제품 수명주기 동안 시스템 내에서 임베디드 결정론적 테스트 패턴을 적용할 수 있다. 임베디드 결정론적 테스트 패턴이란 IC 내부에 미리 정해진 순서로 실행되는 테스트 시퀀스를 의미한다. 사용자는 테스트 데이터의 크기를 압축해 메모리 사용량을 줄이는 '테센트 테스트 컴프레스'로 임베디드 결정론적 테스트 패턴을 생성하고, APB/AXI 같은 통신 인터페이스 표준을 테스트 컨트롤러에 적용할 수 있다.  IC 내에서 적용되는 결정론적 테스트 패턴은 사전 정의된 테스트 기간 내에서 최고 수준의 테스트 품질을 제공할 뿐만 아니라, 디바이스의 수명주기에 따라 테스트 내용을 변경할 수 있는 기능을 제공한다. 앤커 굽타 (Ankur Gupta) 부사장은 "테센트 인시스템 테스트는 고객이 실리콘 수명주기 관리 목표를 달성하는 데 있어 중요한 진전이다"라고 말하며, "노후화 및 환경적 요인이 설계에 큰 영향을 미치고 있다. 테센트 인시스템 테스트는 이러한 문제를 해결하는 스마트 솔루션을 제공하여 궁극적으로 고객에게 향상된 성능, 보안 및 생산성을 제공한다"라고 말했다. 댄 트록(Dan Trock) 아마존웹서비스(AWS)의 수석 DFT 매니저는 "테센트 인시스템 테스트 기술을 통해 데이터 센터에 대한 고품질 필드 테스트가 가능해졌다. AWS 고객은 이제 수명주기 동안 실리콘 디바이스를 지속적으로 모니터링하여 최고의 품질과 안정성을 갖춘 인프라와 서비스의 혜택을 누릴 수 있다"라고 말했다. 테센트 인시스템 테스트는 현재 지멘스 디지털 인더스트리 소프트웨어에서 제공되고 있다. 자세한 내용은 //eda.sw.siemens.com/en-US/ic/tessent/test/in-system-test에서 확인할 수 있다.