PMIC, AP, DDI 등 시스템반도체 수요 급증하는 상황에 대응
반도체 및 전자부품 신뢰성 분석 기업 큐알티가 시스템반도체의 신뢰성을 검증하는 인프라를 강화한다.
큐알티는 시스템 반도체 전용 Logic HTOL(High Temperature Operating Life, 고온동작 수명시험) 설비를 증설한다고 6일 밝혔다.
이번 증설은 전력관리반도체(PMIC), 애플리케이션 프로세서(AP), 디스플레이구동칩(DDI) 등 시스템 반도체 수요가 늘어나는 시황에 선제적으로 대응하기 위한 투자다.
HTOL은 반도체 수명 평가 방법 중 하나로, 특정 온도와 최대 전압 조건 아래서 실제 제품을 동작시켜 제품이 얼마나 긴 시간 동안 정상적으로 작동하는지를 확인하는 시험이다. 반도체들은 대부분 1000시간 이상의 검증을 거치고 나오기 때문에 일반적인 상황에서는 10년 동안 문제없이 동작을 해야 한다. 시스템 반도체의 초기 고장 영역은 물론, 우발 및 마모 고장 영역 등 총체적 검증이 가능해 제품의 문제점을 효과적으로 파악하기 용이하다.
큐알티가 이번에 집중 투자하는 설비는 온도 챔버(Chamber)다. 온도 챔버는 제품의 동작 조건을 시뮬레이션 하기 위한 전원 인가 장치와 동작 수명을 가속하는 역할을 한다. 큐알티는 추가된 챔버를 통해 신뢰성 평가를 위한 생산 능력을 한 단계 업그레이드하고, 시스템 반도체 고도화에 따른 클라이언트의 다양한 요구사항을 원만히 충족시키겠다는 전략이다. 아울러, 시험 진행 및 납기까지 걸리는 시간도 단축해, 생산 효율성 부분도 대폭 개선할 예정이다.
이윤근 큐알티 신뢰성 사업부문(BU)장은 "시스템 반도체는 다품종 소량생산의 특성을 지니고 있어 다양한 시험 조건에 대응할 수 있는 인프라와 고도의 기술력이 요구된다"며 "메모리 반도체부터 비메모리 분야까지 전 영역을 아우르는 안정적인 시험 평가 서비스를 통해 국내 시스템 반도체 생태계 발전에 기여할 수 있도록 최선을 다하겠다"고 전했다.
저작권자 © 전자부품 전문 미디어 디일렉 무단전재 및 재배포 금지